ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 岩波書店 |
| 出版年 | 1985.5 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | x,313p ; 22cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 請求メモ | 予約 | 緑丘アーカイブズ |
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| 書庫(1階) |
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S 7.5||00868||136219 | 0011362197 |
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1985 | 研究図書 |
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| 一般注記 | 参考書: p303-305 |
|---|---|
| 著者標目 | 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム> |
| 件 名 | NDLSH:集積回路 |
| 分 類 | NDC8:549 NDC8:549.08 NDC7:549.92 NDLC:ND351 NDLC:ND386 |
| 書誌ID | OJ00140070 |
| ISBN | 4000101846 |
| NCID | BN00059257 |